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IDT70V659/58/57S
High-Speed 3.3V 128/64/32K x 36 Asynchronous Dual-Port Static RAM
AC Test Conditions (V DDQ - 3.3V/2.5V)
Industrial and Commercial Temperature Ranges
2.5V
Input Pulse Levels
GND to 3.0V / GND to 2.5V
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
2ns Max.
1.5V/1.25V
1.5V/1.25V
DATA OUT
833 ?
Output Load
Figures 1 and 2
4869 tbl 11
770 ?
5pF*
,
3.3V
590 ?
DATA OUT
50 ?
50 ?
10pF
(Tester)
1.5V/1.25
4869 drw 03
,
DATA OUT
435 ?
5pF*
Figure 1. AC Output Test load.
7
6
5
10.5pF is the I/O capacitance of this
device, and 10pF is the AC Test Load
Capacitance.
4869 drw 04
Figure 2. Output Test Load
(For t CKLZ , t CKHZ , t OLZ , and t OHZ ).
*Including scope and jig.
,
? tAA
4
(Typical, ns) 3
2
1
20.5
30
50
80
100
200
,
-1
Figure 3. Typical Output Derating (Lumped Capacitive Load).
Capacitance (pF)
4869 drw 05
10
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